FTSR（Focal and Tilt Series Reconstruction）はフォーカスシリーズのHREM像を使用して、波動関数を再構成します。 傾斜シリーズ像を使用すればフォーカスシリーズ像に比べて解像度を最大2倍に向上させることができます。
FTSRを使用すれば球面収差の影響を受けない試料下面での波動関数を取得できます。したがって、FTSRはソフトウェアによるCsコレクターと言えます。
文献、技術資料（*基本文献）
- * A. I. Kirkland and S. J. Haigh: Exit Wavefunction Reconstruction, JEOL News 44 (2009) 6-11.
- * K. Ishizuka and E. Okunishi: Quantitative Electron Microscopy Using Digital Data Processing, JEOL News 43 (2008) 17-22.
- *R. R. Meyer, A. I. Kirkland and W. O. Saxton: A new method for the determination of the wave aberration function for high resolution TEM: 1. Measurement of the symmetric aberrations; Ultramicroscopy, 92 (2002) 89-109.
- *R. R. Meyer , A. I. Kirkland and W. O. Saxton: A new method for the determination of the wave aberration function for high-resolution TEM.: 2. Measurement of the antisymmetric aberrations; Ultramicroscopy, 99 (2004) 115-123.
- K. Ishizuka: Tilt Series Reconstruction and Parallax Problem: M&M 2013 Abstract Poster
処理例 （サンプルデータ）
- Sampling Interval
- MTF and NPS
- Focal Series Data: NbWO
- Focal Series Data: NdTiO
- Tilt Series Data: tiltf6 for v2.0
ダウンロード
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- FTSR (FSR and TSR) with Aberration Corrector v2.5
for GMS 3.5 (64bit)
for GMS 3.4 (64bit)
for GMS 3.3 (64bit)
for GMS 3.2 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
for GMS 1.x (32bit)
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ユーザーキードライバ
旧バージョン
- FTSR (FSR and TSR) with Aberration Corrector v2.4
for GMS 3.2 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
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for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
for GMS 1.x (32bit)
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