MSAはリーハイ大学(Lehigh University)のMasashi Watanabe氏によって開発された手順に基づくDigitalMicrographプラグインです。多変量統計解析(MSA)手法の1つである主成分分析(PCA)により、XEDS、EELS、EFTEM、カソードルミネッセンスなどの2Dおよび3Dスペクトル像から統計的に有意な特徴を検出します。
PCAは少数の主成分により観測データを説明することによりノイズを大幅に減少します。PCAによる解析は非常に効率的で便利ですが、特にノイズの多い条件では予期しないアーティファクトが生じる可能性があります。特に、少量の信号は処理領域全体のランダムなノイズに埋没することもあり得ます。ローカル PCA は、PCA の感度を上げることで、このようなアーティファクトを削減しようとします。
Local PCA from v2.0 Read More
文献、技術資料(*基本文献)
- * M. Watanabe, E. Okunishi and K. Ishizuka, Analysis of Spectrum-Imaging Datasets in Atomic-Resolution Electron Microscopy, Microscopy and Analysis 23, November 2009
- * K. Ishizuka and M. Watanabe, Local PCA: How to Avoid Unexpected Artifacts from Multivariate Statistical Analysis on STEM Spectrum-Imaging Datasets (Presented at IMC2014 at Prague) (PDF) Poster (DPF).
- M. Watanabe, M. Kanno, D.W. Ackland, C.J. Kiely and D.B. Williams, Applications of Electron Energy-Loss Spectrometry and Energy Filtering in an Aberration-Corrected JEM- 2200FS STEM/TEM, Microscopy and Microanalysis, 13 (2007), Suppl. 2, 1264-1265
- M.G. Burke, M. Watanabe, D.B. Williams and J.M. Hyde, Quantitative characterization of nanoprecipitates in irradiated low alloy steels: advances in the application of FEG-STEM quantitative analysis to real materials, J. Mater. Sci. 41(2006), 4512-4522
処理例(サンプルデータ)
ダウンロード
これらのプログラムを使用するにはライセンス(ユーザキー)が必要です。
ご購入に関しましては「support@hremresearch.com」までお問い合わせ下さい。
- MSA v2.3.1
for GMS 3.5 (64bit)
for GMS 3.4 (64bit)
for GMS 3.3 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
必須プラグイン
ユーザーキードライバ
旧バージョン
- MSA v2.2
for GMS 3.3 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
for GMS 1.x (32bit)
HREM ニュース
このプラグインに関する情報をお知らせ致しますのでHREM Newsにご登録下さい。
注意:一度HREM Newsに登録された方は再度登録の必要はありません。