QEDは電顕のビーム傾斜偏向系を制御して、LARBED（Large Angle Rocking BeamElectron Diffraction）およびPED（Precession Electron Diffraction）を取得します。LARBEDデータから、試験の厚さ、構造因子の絶対値、および試験の表面方位を正確に決定することができます。
QEDはマックス・プランク研究所のChristoph Koch氏によって開発された特許取得済みの技術とルーチンに基づいています。
文献、技術資料（*基本文献）
- * C. T. Koch: Aberration-compensated large-angle rocking beam electron diffraction, Ultramicroscopy, 111 (2011) 828-840
- * C. T. Koch, V. Burak Özdöl and K. Ishizuka: Quantitative Four-Dimensional Electron Diffraction in the TEM, Microscopy and Analysis, May 2012, 5-8.
- C. T. Koch: Method and Device for Measureing Electron Diffraction of a Sample, US patent, US 2011/0049363 A1 (2011)
- C. T. Koch: Many-Beam Solution to the Phase Problem in Crystallography (2008)
処理例（サンプルデータ）
- LARBED data stack (517 MB)
(data name: Stack_disc_L=290mm_18pts.dm3) - CBED data stack (364 MB)
(data name: CLARBED_15pts_bin4_merged.dm3)
Original data stacks 0 (263 MB) (data name: CLARBED_15pts_bin4_0.dm3)
Original data stacks 1 (110 MB) (data name: CLARBED_15pts_bin4_1.dm3)
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- QED/Acquisition v1.5.7
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for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
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