xHREMTM: 高分解能電子顕微鏡シミュレーションプログラム

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xHREMTM (WinHREMTM/MacHREMTM) はWindowsおよびMac OS上で動作する 高分解能電子顕微鏡のためのシミュレーションプログラムです。このプログラムは米国アリゾナ州立大学 において開発されたマルチスライス法による高分解能電子顕微鏡像のシミュレーションプログラムを基本 としています。現在、最も信頼のおける電子顕微鏡像シミュレーションプログラムの1つであります。 Intel社のMKL(Math Kernal Library)を使用して計算スピードの向上が図られています。

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カタログ

マニュアル(PDF形式)

文献、技術資料

  • K. Ishizuka and N. Uyeda: A New Theoretical and Practical Approach to the Multislice Method, Acta Cryst. A33 (1977) 740.
  • K. Ishizuka: Contrast Transfer of Crystal Images in TEM, Ultramicroscopy 5 (1980) 55.
  • K. Ishizuka: A practical approach for STEM image simulation based on the FFT multislice method, Ultramicroscopy 90 (2002) 71-83.
  • K. Ishizuka: Multislice Formula for Inclined Illumination, Acta Cryst. A38 (1982) 773-779.
  • K. Ishizuka: Prospects of atomic resolution imaging with an aberration-corrected STEM, J. Electron Microsc. 50 (2001) 291-305.

ダウンロード

商用プログラム(ライセンスプログラム)

これらのプログラムを使用するにはライセンス(ユーザキー)が必要です。
ご購入に関しましては「support@hremresearch.com」までお問い合わせ下さい。

更新点

  • xHREM v3.6 (Oct. 2011): 詳細
  • STEM Extension v4.4 (Nov. 2018) :2つめの環状検出器
    同時に2つの環状検出器に対する像(HAADF像とABF像、あるいはHAADF像とLAADF像など)の計算が可能です。
  • STEM Extension v4.6 (Sept. 2020) :DPC信号
    Differential Phase Contrast (DPC)信号のシミュレーションができるようになりました。
    このDPC信号はqDPC plug-in for DigitalMicroscopeで積分すれば位相分布が得られます。
    STEM-DPC ReadMe
    STEM-DPC bata for Windows

xHREM v3.6よりHASP HLキー(SRM対応)が必須になります。現在、HASP4キー、または 古いタイプのHASP HLキーをご使用中のユーザはHASP HL(SRM)キーへの更新が必要となります。
キーの更新についてはsupport@hremresearch.comまでお問い合わせ下さい。

フリープログラム・ユーティリティ

  • ModelView (原子モデル表示プログラム)      Windows      MacOS
  • CTF (TEM Contrast Transfer Function 表示プログラム)      Windows      MacOS