GPAは高分解能(S)TEM像から定量的な格子変形と2次元ひずみマップを生成します。GPAはMartin Hytch氏によって開発された幾何位相解析(Geometric Phase Analysis)に基づいています。GPAは高分解能(S)TEM像の原子列位置をもとに格子歪を求めるPPA（Peak-PairsAnalysis）と相補的なプラグインです。
GPAの手法を用いて、高精度でより広い視野に適用できる2つ格子歪解析法もあります： 1つはSTEMモアレ像（sMoiréを参照）、他は暗視野ホログラムを使用します（HoloDarkを参照）
文献、技術資料（*基本文献）
- *M.J. Hytch, E. Snoeck and R. Kilaas, Ultramicroscopy 74 (1998) 131-146. Quantitative measurement of displacement and strain fields from HREM micrographs
- *C. L. Johnson, M. J. Hytch, P. R. Buseck, PNAS 101 (2004) 17936-17939. Nanoscale waviness of low-angle grain boundaries
- M. J. Hytch, J-L. Putaux, J-M. Penisson, Nature 423 (2003) 270-273. Measurement of the displacement field around dislocations to 0.03A by electron microscopy
処理例（サンプルデータ）
ダウンロード
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- GPA Phase v4.12.1
for GMS 3.6 (64bit)
for GMS 3.5 (64bit)
for GMS 3.4 (64bit)
for GMS 3.3 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
必須プラグイン
ユーザーキードライバ
旧バージョン
- GPA Phase v4.12
for GMS 3.4 (64bit)
for GMS 3.3 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
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