sMoiréは幾何位相解析手法（GPAを参照）を使用してSTEMモアレ像を分析し、広い視野にわたって高精度な2次元ひずみマップを求めます。
電子ホログラフィの経験がある方は、暗視野ホログラムを使用して、同様の視野と精度で2次元ひずみマップを取得するHoloDarkもご覧ください。

文献、技術資料（*基本文献）

• * Akimitsu Ishizuka, Martin Hytch and Kazuo Ishizuka: STEM moiré analysis for 2D strain measurements, Microscopy 66 (2017) 217-221.
• D. Su and Y. Zhu: Scanning moiré fringe imaging by scanning transmission electron microscopy, Ultramicroscopy 110 (2010) 229-233.
• S. Kim, S. Lee, et al.: Scanning moiré fringe imaging for quantitative strain mapping in semiconductor devices, Applied Physics Letters 102, 161604 (2013).

処理例（サンプルデータ）

ダウンロード

これらのプログラムを使用するにはライセンス（ユーザキー）が必要です。
ご購入に関しましては「support@hremresearch.com」までお問い合わせ下さい。

• sMoire v1.3.4
  for GMS 3.6.2*
  for GMS 3.6.0 – 3.6.1*
  for GMS 3.5*
  for GMS 3.4*
  for GMS 3.3*
  for GMS 3.0 – 3.2*
  for GMS 2.3 64bit
  for GMS 2.0 – 2.1 64bit

必須プラグイン

• IPU plug-in (Free Software)
• HREM Mouse plug-in (Free Software)
• Acquire Image Series plug-in(Free Software)

ユーザーキードライバ

• User Key Driver / Remote Update System (RUS)

旧バージョン

• sMoire v1.3.2
  for GMS 3.5*
  for GMS 3.4*
  for GMS 3.3*
  for GMS 3.0 – 3.2*
  for GMS 2.3 32bit    GMS 2.3 64bit
  for GMS 2.0 – 2.1 32bit    GMS 2.0 – 2.1 64bit
  for GMS 1.x

HREM ニュース

このプラグインに関する情報をお知らせ致しますのでHREM Newsにご登録下さい。
注意：一度HREM Newsに登録された方は再度登録の必要はありません。