PPAはカディス大学(University of Cadiz)のPedro L. Galindo氏によって開発された手順に基づくDigitalMicrographプラグインです。PPAは高分解能(S)TEM像のピーク位置より局所ひずみマップを計算します。PPAはフーリエ変換を用いた格子ひずみを測定するGPA(Geometrical Phase Analysis)と相補的なプラグインです。
PPA は (GPA とは対照的に) ピーク位置を直接処理するため、距離や角度などのピーク間の関係を分析できます (Distortion Analysis を参照)。

Distortion Analysis from v4.0 Read More

Non-Local Average module (NLA moduleライセンスが必要です) Read More

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