PPAはカディス大学(University of Cadiz)のPedro L. Galindo氏によって開発された手順に基づくDigitalMicrographプラグインです。PPAは高分解能(S)TEM像のピーク位置より局所ひずみマップを計算します。
PPAはフーリエ変換を用いた格子ひずみを測定するGPA（Geometrical Phase Analysis）と相補的なプラグインです。
文献、技術資料（*基本文献）
- * K. Ishizuka and E. Okunishi: Quantitative Electron Microscopy Using Digital Data Processing, JEOL News 43 (2008) 17-22.
- * P. Galindo, J. Pizarro, S. Molina1 and K. Ishizuka, High Resolution Peak Measurement and Strain Mapping using Peak Pairs Analysis, Microscopy and Analysis 23, March 2009 (PDF)
- P Galindo, S Kret, AM Sanchez, J-Y Laval, A.Yanez, J Pizarro, E Guerrero, T Ben and SI Molina, Ultramicroscopy 107 (2007) 1186-1193: The Peak Pairs algorithm for strain mapping from HRTEM images.
処理例（サンプルデータ）
ダウンロード
これらのプログラムを使用するにはライセンス（ユーザキー）が必要です。
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- PPA v3.5.2
for GMS 3.3 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
for GMS 1.x (32bit)
必須プラグイン
ユーザーキードライバ
β版
- PPA v4.0 beta with Distortion Analysis
Manual (Distortion Analysis)
for GMS 3.4 (64bit)
for GMS 3.3 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
旧バージョン
- PPA v3.5.1
for GMS 3.3 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
for GMS 1.x (32bit)
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