PPAはカディス大学(University of Cadiz)のPedro L. Galindo氏によって開発された手順に基づくDigitalMicrographプラグインです。PPAは高分解能(S)TEM像のピーク位置より局所ひずみマップを計算します。
PPAはフーリエ変換を用いた格子ひずみを測定するGPA(Geometrical Phase Analysis)と相補的なプラグインです。

Distortion Analysis v4.0
Distortion Analysisを使用すれば、複雑な構造のピークペア情報とピーク位置からピーク間距離と角度を分析できます。 さらに、構造単位(四面体や八面体など)の回転角の計算、電気双極子解析のためのピーク変位の推定などか可能になります。マニュアルのDistortion Analysisをご覧ください。

カタログ

マニュアル

文献、技術資料(*基本文献)

処理例(サンプルデータ)

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