PPAはカディス大学(University of Cadiz)のPedro L. Galindo氏によって開発された手順に基づくDigitalMicrographプラグインです。PPAは高分解能(S)TEM像のピーク位置より局所ひずみマップを計算します。
PPAはフーリエ変換を用いた格子ひずみを測定するGPA（Geometrical Phase Analysis）と相補的なプラグインです。
Distortion Analysis v4.0
Distortion Analysisを使用すれば、複雑な構造のピークペア情報とピーク位置からピーク間距離と角度を分析できます。 さらに、構造単位（四面体や八面体など）の回転角の計算、電気双極子解析のためのピーク変位の推定などか可能になります。マニュアルのDistortion Analysisをご覧ください。
文献、技術資料（*基本文献）
- * K. Ishizuka and E. Okunishi: Quantitative Electron Microscopy Using Digital Data Processing, JEOL News 43 (2008) 17-22.
- * P. Galindo, J. Pizarro, S. Molina1 and K. Ishizuka, High Resolution Peak Measurement and Strain Mapping using Peak Pairs Analysis, Microscopy and Analysis 23, March 2009 (PDF)
- P Galindo, S Kret, AM Sanchez, J-Y Laval, A.Yanez, J Pizarro, E Guerrero, T Ben and SI Molina, Ultramicroscopy 107 (2007) 1186-1193: The Peak Pairs algorithm for strain mapping from HRTEM images.
処理例（サンプルデータ）
ダウンロード
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- PPA v4.0
for GMS 3.4 (64bit)
for GMS 3.3 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
必須プラグイン
ユーザーキードライバ
旧バージョン
- PPA v3.5.2
for GMS 3.3 (64bit) (applicable from GMS 3.0)
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.1 32bit GMS 2.1 64bit (applicable from GMS 2.0)
for GMS 1.x (32bit)
HREM ニュース
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