GPAは高分解能(S)TEM像から定量的な格子変形と2次元ひずみマップを生成します。GPAはMartin Hytch氏によって開発された幾何位相解析(Geometric Phase Analysis)に基づいています。GPAは高分解能(S)TEM像の原子列位置をもとに格子歪を求めるPPA（Peak-PairsAnalysis）と相補的なプラグインです。
GPAの手法を用いて、高精度でより広い視野に適用できる2つ格子歪解析法もあります： 1つはSTEMモアレ像（sMoiréを参照）、他は暗視野ホログラムを使用します（HoloDarkを参照）
文献、技術資料（*基本文献）
- *M.J. Hytch, E. Snoeck and R. Kilaas, Ultramicroscopy 74 (1998) 131-146. Quantitative measurement of displacement and strain fields from HREM micrographs
- *C. L. Johnson, M. J. Hytch, P. R. Buseck, PNAS 101 (2004) 17936-17939. Nanoscale waviness of low-angle grain boundaries
- M. J. Hytch, J-L. Putaux, J-M. Penisson, Nature 423 (2003) 270-273. Measurement of the displacement field around dislocations to 0.03A by electron microscopy
処理例（サンプルデータ）
ダウンロード
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- GPA Phase v4.13
for GMS 3.6.2
for GMS 3.6.0 – 3.6.1
for GMS 3.5
for GMS 3.4
for GMS 3.0 – 3.3
for GMS 2.3 64bit
for GMS 2.0 – 2.1 64bit
必須プラグイン
ユーザーキードライバ
旧バージョン
- GPA Phase v4.12.1
for GMS 3.6
for GMS 3.5
for GMS 3.4
for GMS 3.0 – 3.3
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.0 – 2.1 32bit GMS 2.0 – 2.1 64bit
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