MSAはリーハイ大学（Lehigh University）のMasashi Watanabe氏によって開発された手順に基づくDigitalMicrographプラグインです。多変量統計解析（MSA）手法の１つである主成分分析（PCA）により、XEDS、EELS、EFTEM、カソードルミネッセンスなどの2Dおよび3Dスペクトル像から統計的に有意な特徴を検出します。
PCAは少数の主成分により観測データを説明することによりノイズを大幅に減少します。PCAによる解析は非常に効率的で便利ですが、特にノイズの多い条件では予期しないアーティファクトが生じる可能性があります。特に、少量の信号は処理領域全体のランダムなノイズに埋没することもあり得ます。MSA v2.0 (Local PCA) はこれらの問題に対処するものです。
MSA v2.0 (Local PCA)
ローカル PCAは、SIを小さなセグメントに分割して処理することで、PCA の感度を上げアーティファクトを削減します。 Read More
MSA v3.0
このバージョンより開かれた SI データを最新の DigitalMicrograph で直接処理できるようになりました。 Read More
文献、技術資料（*基本文献）
- * M. Watanabe, E. Okunishi and K. Ishizuka, Analysis of Spectrum-Imaging Datasets in Atomic-Resolution Electron Microscopy, Microscopy and Analysis 23, November 2009
- * K. Ishizuka and M. Watanabe, Local PCA: How to Avoid Unexpected Artifacts from Multivariate Statistical Analysis on STEM Spectrum-Imaging Datasets (Presented at IMC2014 at Prague) (PDF) Poster (DPF).
- M. Watanabe, M. Kanno, D.W. Ackland, C.J. Kiely and D.B. Williams, Applications of Electron Energy-Loss Spectrometry and Energy Filtering in an Aberration-Corrected JEM- 2200FS STEM/TEM, Microscopy and Microanalysis, 13 (2007), Suppl. 2, 1264-1265
- M.G. Burke, M. Watanabe, D.B. Williams and J.M. Hyde, Quantitative characterization of nanoprecipitates in irradiated low alloy steels: advances in the application of FEG-STEM quantitative analysis to real materials, J. Mater. Sci. 41(2006), 4512-4522
処理例（サンプルデータ）
ダウンロード
これらのプログラムを使用するにはライセンス（ユーザキー）が必要です。
ご購入に関しましては「support@hremresearch.com」までお問い合わせ下さい。
- MSA v3.0.2
for GMS 3.6.2
for GMS 3.6.0 – 3.6.1
for GMS 3.5
for GMS 3.4
for GMS 3.0 – 3.3
for GMS 2.3 64bit
for GMS 2.0 – 2.1 64bit
必須プラグイン
ユーザーキードライバ
旧バージョン
- MSA v2.3.1
for GMS 3.5
for GMS 3.4
for GMS 3.0 – 3.3
for GMS 2.3 64bit
for GMS 2.0 – 2.1 64bit
アーカイブ
- MSA v2.3.1
for GMS 2.3 32bit
for GMS 2.0 – 2.1 32bit
HREM ニュース
このプラグインに関する情報をお知らせ致しますのでHREM Newsにご登録下さい。
注意：一度HREM Newsに登録された方は再度登録の必要はありません。