Jitterbugはスキャン像の一般的な問題である走査ノイズとドリフトを検出してSTEM像を補正します。 これによって、走査の不安定性によって失われた解像度を回復し、SN比を向上させることができます。 結晶格子の角度と長さを正しい値に変換すればシミュレーション像との比較が容易になります。 プラグインに含まれている電顕像の解像度とSNRを求めるツールを用いて、処理の前後で達成されたパフォーマンスの向上を定量化できます。
文献、技術資料 (* 基本文献)
- * L. Jones: Scan-noise and Drift Correction in the STEM, Microscopy Today (2014) p.40-41
- * L. Jones and P. D. Nellist: Identifying and Correcting Scan Noise and Drift in the Scanning Transmission Electron Microscope, Microscopy & Microanalysis 19 (2013), p.1050-1060.
処理例（サンプルデータ）
ダウンロード
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- Jitterbug v3.7
for GMS 3.6.2
for GMS 3.6.0 – 3.6.1
for GMS 3.5
for GMS 3.4
for GMS 3.0 – 3.3
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.0 – 2.1 32bit GMS 2.0 – 2.1 64bit
必須プラグイン
ユーザーキードライバ
旧バージョン
- Jitterbug v3.6
for GMS 3.5
for GMS 3.4
for GMS 3.0 – 3.3
for GMS 2.3 32bit GMS 2.3 64bit
for GMS 2.0 – 2.1 32bit GMS 2.0 – 2.1 64bit
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