Application Note: FFT MULTISLICE APPROACH FOR STEM IMAGE SIMULATION (ICEM15, Durban, 2002)

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STEM for MacHREMTM/ WinHREMTM Scanning Transmission Electron Microscope Image Simulation Program 走査型透過電子顕微鏡像 シミュレーションプログラム GaAs [011] のHAADF像 　このプログラムは走査型透過電子顕微鏡像を計算するもので、高分解能電子顕微鏡像のシミュレーションのためのプログラムであるMacHREMTM／WinHREMTM の拡張機能として追加されたものです。明視野像、暗視野像、さらに最近注目されています高角度散乱暗視野像（HAADF STEM）を計算することができます 使いやすいユーザインターフェース 初心者でも容易にデータ作成、計算の実行を行うことができます。 信頼のおけるアルゴリズム MacHREMTM／WinHREMTMで採用されているマルチスライス法ににもとずく動力学的散乱計算を基本としています。 高品位な画像出力 Mac OS／Windowsの標準画像フォーマットで高品位な濃淡像を生成し、印刷、他のアプリケーションへのコピーが可能です。 お問い合わせ先 （有）HREM（HREM Research Inc.） 〒355-0055 埼玉県東松山市松風台14-48 TEL/FAX 0493-35-3919 email: support@hremresearch.com 文献: K. Ishizuka: A practical approach for STEM image simulation based on the FFT multislice method, Ultramicroscopy 90 (2001) 71-83.