Application Note:
Multislice Implementation for Inclined Illumination and Convergent-Beam Electron Diffraction (International Symposium on Hybrid Analyses For Functional Nanostructure, Kyoto, 1998)
New electron diffraction method to identify the chirality of enantiomorphic crystals (Acta Cryst. (2003) B59)

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CBED
for MacHREMTM/ WinHREMTM
Coherent Convergent Beam Electron Diffraction
Pattern Simulation Program


収束電子線回折
シミュレーションプログラム

シリコン[111]入射のCBEDシミュレーション像


 このプログラムは収束電子線回折像(CBED像)を計算するもので、高分解能電子顕微鏡像のシミュレーションのためのプログラムであるMacHREMTM/WinHREMTM の拡張機能として追加されたものです。
  • 使いやすいユーザインターフェース
  • 初心者でも容易にデータ作成、計算の実行を行うことができます。
  • 信頼のおけるアルゴリズム
  • MacHREMTM/WinHREMTMで採用されているマルチスライス法ににもとずく動力学的散乱計算を基本としています。
  • 高品位な画像出力
  • Mac OS/Windowsの標準画像フォーマットで高品位な濃淡像を生成し、印刷、他のアプリケーションへのコピーが可能です。



お問い合わせ先
(有)HREM(HREM Research Inc.)

〒355-0055 埼玉県東松山市松風台14-48
TEL/FAX 0493-35-3919
email: support@hremresearch.com