QPt for DigitalMicrographはTIE (Transport of Intensity Equation：強度輸送方程式）に基づき3枚の電子顕微鏡像から試料下面の複素波面（波動関数）を推定します。QPtはTIEの解法として豪州IATIA社のQPI(Quantitative Phase Imaging)技術を使用しています。

QPtは局所磁場分布などの中分解能から原子オーダーの高分解能まで適応が可能です。また、光学顕微鏡で使用されている位相差法、微分干渉法、Hoffman Modulation Contrast、暗視野法などの結像法を推定された複素波面を用いてコンピュータ内で実現します。

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文献、技術資料 (* 基本文献)

• Real-space observation of a two-dimensional skyrmion crystal (Nature 465 (2010) pp.901-904) (Nature site)
• Real-Space Observation of Helical Spin Order (Science 311 (2006) pp.359-361) (Science site)
• An Approach toward Phase Electron Microscopy (IMC16, Sapporo) (PDF)
• * Phase measurement of atomic resolution image using transport of intensity equation (J Electron Microscopy 2005) (OUP site)
• * Phase Measurement in Electron Microscopy Using the Transport of Intensity Equation (Microscopy Today 2005 May) (PDF)
• Exit Wave Reconstruction in High-Resolution Electron Microscopy using the Transport of Intensity Equation (Coherence2005) (PDF)
• Transport of Intensity Equation applied to Atomic Resolution Images (EMC2004)
• Defocus Step of Through-Focus Images used to Phase Measurement in the Transport of Intensity Equation (APEM2004)